"1505.1-2008 - IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505"
- Genre
- Electronic books
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| 2013 | Utgivningsland okänt / Ej specificerat |